啟航網(wǎng)訊  2024年6月23日下午四點(diǎn)在F315, 國家同步輻射實(shí)驗(yàn)室特聘副研究員趙帥作了題為“X射線干涉成像技術(shù)”的學(xué)術(shù)報(bào)告。報(bào)告會(huì)由敖波副院長主持，測(cè)光學(xué)院部分教師、學(xué)生認(rèn)真聆聽了報(bào)告。

趙帥副研究員從同步輻射光源的需求出發(fā)，介紹了X射線干涉成像技術(shù)。報(bào)告介紹了X 射線波前檢測(cè)技術(shù)，使用X 射線光柵干涉儀測(cè)量X射線波前形狀的面型誤差并使用 LTP 交叉檢查斜率誤差以確認(rèn)該方法的準(zhǔn)確性，差值小于 200 nrad。其次介紹了高分辨率X 射線顯微鏡，可以用來探索納米級(jí)物體內(nèi)部 3D 結(jié)構(gòu)。對(duì)于管式X射線顯微鏡，關(guān)鍵的光學(xué)元件是聚光鏡和物鏡，使用高精度X射線毛細(xì)管作為聚光鏡，使用消色差X射線透鏡代替菲涅爾區(qū)板作為物鏡。最后介紹了搭建的實(shí)驗(yàn)室級(jí)消色差X射線顯微鏡，實(shí)現(xiàn)百nm級(jí)分辨率，報(bào)告還介紹了其他新型X射線成像技術(shù)。

報(bào)告結(jié)束后，趙帥副研究員就師生提出的問題進(jìn)行了細(xì)心的解答，此次報(bào)告在座師生受益匪淺。